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Advances in Structural LEED Analyses of Silicon Surfaces
Dissertation
Überblick
Datum der Disputation
7.10.2022
Autor:in
Bahlmann, Jascha
Erstbetreuer:in
Wollschläger, Joachim
Identität
Digital Object Identifier (DOI)
https://doi.org/10.48693/216
Weitere Informationen Zum Dokument
Externe URL
https://osnadocs.ub.uni-osnabrueck.de/handle/ds-202212097918
Schlagwörter
LEED
dynamical scattering theory
silicide
silicon
structural analysis
electron diffraction
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Organisationseinheit
FB 04 – Physik
Fach
Physik
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